Analisis Komposisi Fasa Campuran Nano-Periklas Dan Subnano-Rutil

Hariyani, Yufi (2011) Analisis Komposisi Fasa Campuran Nano-Periklas Dan Subnano-Rutil. Other thesis, Institut Teknologi Sepuluh Nopember.

Text 1107100024-Undergraduate_thesis.pdf Restricted to Repository staff only Download (9MB) | Request a copy

Abstract

Telah dilakukan analisis data difraksi sinar-x dengan pengumpulan data difraksi sinar-x dari campuran nano-periklas dan subnano-rutil diperoleh dari metode kopresipitasi. Serbuk nano-periklas diperoleh setelah kalsinasi $500^\circ\text{C}$, subnano-rutil setelah kalsinasi $800^\circ\text{C}$. Tujuan utama analisis ini adalah mengamati jangkauan pengukuran difraksi dalam akurasi dan presisi dari fraksi berat. Skema dari komposisi campuran diperoleh dari 0% periklas - 100% rutil, 25% periklas - 75% rutil, 50% periklas - 50% rutil, 75% periklas - 25% rutil, 100% periklas - 0% rutil. Pencampuran keramik nano-periklas dan subnano-rutil tersebut dilakukan dengan dua metode, yaitu pencampuran menggunakan spatula dan mortar. Campuran keramik nano-periklas dan subnano-rutil diukur menggunakan difraksi sinar-x pada "sudut panjang" $20\text{--}115^\circ 2\theta$ step size $0.02^\circ$ dan "sudut pendek" $25\text{--}45^\circ 2\theta$ step size $0.04^\circ$. Analisis dilakukan menggunakan Rietica, sebuah perangkat lunak berbasis metode Rietveld. Jangkauan sudut yang dipilih adalah (A) $20\text{--}115$, (B) $20\text{--}100$, (C) $20\text{--}85$, (D) $20\text{--}70$, (E) $20\text{--}55$, (F) $20\text{--}40^\circ 2\theta$ untuk sudut panjang. Hasil analisis menunjukkan akurasi komposisi fasa tidak dipengaruhi oleh perubahan sudut kecuali untuk sudut F. Jangkauan sudut semakin kecil menyebabkan ketidakpastian fraksi berat relatif yang semakin besar. Ini direkomendasikan bahwa jangkauan sudut D digunakan untuk akurasi dan presisi pengukuran. Hasil lain disarankan untuk menggunakan mortar daripada spatula untuk kehomogenan campuran dan pengukuran dengan sudut panjang lebih akurat dan presisi dari pada sudut pendek.

Item Type:	Thesis (Other)
Additional Information:	RSFi 530.414 Har a
Uncontrolled Keywords:	Periclas-rutile mixture, X-ray diffraction, Rietveld analysis, Measurement range, Mixing method
Subjects:	Q Science > QC Physics > QC20.7.F67 Fourier transformations
Divisions:	Faculty of Mathematics and Science > Physics > 45201-(S1) Undergraduate Thesis
Depositing User:	magang .
Date Deposited:	16 Oct 2026 02:18
Last Modified:	16 Oct 2026 02:18
URI:	http://repository.its.ac.id/id/eprint/145635

Actions (login required)

View Item