Desain Perangkat Ride-through Pada Bus Dc Variable Speed Drive Untuk Menanggulangi Terjadinya Trip Pada Saat Timbulnya Gangguan Dip Tegangan Yang Berat

Martin, Yeremia (2023) Desain Perangkat Ride-through Pada Bus Dc Variable Speed Drive Untuk Menanggulangi Terjadinya Trip Pada Saat Timbulnya Gangguan Dip Tegangan Yang Berat. Other thesis, Institut Teknologi Sepuluh Nopember.

[thumbnail of 07111840000078-Undergraduate_Thesis.pdf] Text
07111840000078-Undergraduate_Thesis.pdf - Accepted Version
Restricted to Repository staff only until 1 April 2025.

Download (2MB)

Abstract

Gangguan tegangan kedip merupakan suatu masalah yang sering muncul di perindustrian dan sudah banyak menimbulkan suatu masalah dan kerugian yang besar bagi pemilik perusahaan. Hal yang kerat dihubungkan dengan masalah tegangan kedip adalah perangkat elektronika daya dan yang sering digunakan di perindustrian adalah Variable Speed Drive (VSD). VSD sering sekali terganggu kinerjanya terhadap gangguan berupa tegangan kedip yang dimana dapat merusak komponen – komponen pada drive tersebut, akan tetapi sekarang ini para manufaktur VSD telah membuat solusi untuk masalah tegangan kedip untuk tegangan kedip yang ringan yang dimana masih rentan mengalami trip terhadap tegangan kedip yang berat. Maka dari itu, dibuatlah sebuah desain berupa perangkat ride-through¬ untuk menanggulangi terjadinya trip terhadap tegangan kedip yang berat yaitu dengan menggunakan sumber daya cadangan eksternal tambahan berupa superkapasitor dan boost konverter sistem close-loop yang di koneksikan pada saluran bus DC VSD dengan menggunakan aplikasi PSIM. Hal ini bertujuan untuk membuat sebuah desain VSD yang dapat mengkompensasi hilangnya daya saat terjadinya gangguan tegangan kedip yang berat dan menghindari terjadinya trip pada VSD untuk tegangan kedip yang berkategorikan berat. Dengan di lakukannya simulasi pada aplikasi PSIM didapatkan bahwa VSD dengan perangkat ride-through dapat mengkompensasi tegangan kedip lebih baik dibandingkan VSD tanpa perangkat ride-through dan dapat mempertahankan sistem VSD untuk tidak mengalami trip.
=====================================================================================================================================
Voltage dips disturbance is a problem that often appears in industry and has caused a lot of problems and big losses for company owners. The thing that is closely related to the voltage dips problem is power electronic devices and the one that is often used in industry is the Variable Speed Drive (VSD). VSD's performance is often compromised by disturbances in the form of voltage dip which can damage the components on the drive. Nowadays, VSD manufacturers have made solutions to the problem of voltage sag for light voltage dip buy still prone to trip when heavy voltage dips occur. Therefore, a design in the form of a ride-through device was made to overcome the occurrence of trips against heavy voltage dips by using additional backup power sources in the form of supercapacitors and a boost converter connected to the DC VSD bus line. This research aims to create a VSD design that can compensate for the loss of power when faults like voltage dips categorized as heavy dip voltage, and to avoid the trip of VSD for a heavy dip voltage fault. By doing simulation on PSIM application, it was found that a VSD with a ride-through device can compensate for heavy dip voltage fault better than a VSD without a ride-thorugh device and can maintain the VSD system not to encounter tripping.

Item Type: Thesis (Other)
Uncontrolled Keywords: Ride-through, kompensasi, Variable Speed Drive, Tegangan Kedip, Boost konverter, superkapasitor, PSIM
Subjects: H Social Sciences > HD Industries. Land use. Labor > HD45 Technological innovations
Divisions: Faculty of Intelligent Electrical and Informatics Technology (ELECTICS) > Electrical Engineering > 20201-(S1) Undergraduate Thesis
Depositing User: Yeremia Martin
Date Deposited: 27 Jan 2023 02:51
Last Modified: 27 Jan 2023 02:51
URI: http://repository.its.ac.id/id/eprint/95715

Actions (login required)

View Item View Item